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Quantitative Mobility Spectrum Analysis of AlGaN/GaN Heterostructures Using Variable-Field Hall Measurements

机译：采用可变场霍尔测量的alGaN / GaN异质结构的定量迁移谱分析

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N. Biyikli; C. W. Litton; J. Xie; Y. -t. Moon; F. Yun; C. -g. Stefanita; J. R. Meyer; H. Morkoç;
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年度 2016
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